PF series :  FET 프로브용 등

   PF 시리즈

  　・오실로스크프를 직접、기판등의 측정대상에 접촉시킵니다。

  　・PCB에 직접 접촉시킬 필요가 있는 FET프로브 등에 의한 고주파대역의 측정에 적합합니다。

 특징

  ■ 종래의 프로브 스탠드 등과는 전혀 다른 구조에 의해、불과 수초 만의 간단한 간단한 리프트 ＆ 드롭
    조작으로、측정대상에 대한 매우 안정된 프로빙이 가능합니다。

  ■ 부속품인 전용 돋보기를 셋팅하므로써、항상 프로브 끝부분을 확대 할 수가 있고、미세한 측정대상에
     대한 프로빙을 용이하게 합니다。

  ■ 고정밴드를 이용한 독자적인 취부방법으로、대부분의 오실로스코프 메이커의 프로브를 간단히 세팅 
     할 수가 있습니다。

                                   
                                 사용이미지                                             부속 돋보기의 사용이미지

  사용방법　

   ＰＦ 시리즈형식 일람표　　

       ・  암 길이(Ｌ)는　최대한 늘렸을 때의 베이스 중앙부터의 길이 입니다。
　     측정암의 범위는 ＰＦ－４００의 경우、약 반경 ４００ｍｍ이내가 됩니다。 　

     ・２암(Arm)타입에는 2개의 암이 장착되어 있습니다。
    　 ２암(Arm)은、조작성을 고려하여 길이가 다른 2개의 암이 장착되어 있습니다。
         예를 들면, ＰＦ-４００Ｗ의 경우, Ｌ=400　및　L=320　가 장착되어 있습니다。
  　    이 때문에 각각의 암은 간섭을 받지 않고 독립된 조작이 가능 합니다。