・박막 등 실험시료의 전기특성측정이나 미세 IC 또는 프로브카드의 검사에도 많이 사용되고 있습니다。　
      （미세한 측정대상에는 바늘끝 하중이 PA 시리즈 보다 가벼운 PL 시리즈 도 있습니다。）



   특징

   ■ 종래의 프로브 스탠드 등과는 전혀 다른 구조에 의해、불과 수초 만의 간단한 간단한 리프트 ＆ 드롭
     조작으로、측정대상에 대한 매우 안정된 프로빙이 가능합니다。

   ■ 부속품인 전용 돋보기를 셋팅하므로써、항상 프로브 끝부분을 확대 할 수가 있고、미세한 측정대상에
      대한 프로빙을 용이하게 합니다。

   ■ 미세축（Ø0.6mm）의 경질금도금프로브는 일반적인 오실로스코프의 프로브보다도 훨씬 미세한 대상물
     에 프로빙 할 수가 있습니다。
      예를 들면, 0.4mm피치의 ＩＣ가 인접한 복수의 랜드에 프로빙 할 수가 있습니다。

                          선단부 이미지                                           복수프로빙 사용이미지　　

　 ※ 바늘끝의 프로브는 고객의 요청에 맞춰 시판되는 테스터용 프로브나 반도체용 프로브 등으로

          변경할 수 이 있습니다。상세한 내용은 문의 주십시오。

    시판되는 컨택프로브의 취부 예
           
          （프로브의 직경에 맞춰서 제작한 홀더를 거쳐서 암(Arm) 선단에 취부합니다。）

                    

     사용방법